產(chǎn)品詳情
- 汽車芯片測(cè)試:適配 MCU、功率芯片、傳感器芯片、車規(guī)級(jí) IC 的高低溫老化測(cè)試,-60℃~250℃寬溫域模擬極端工況,保障芯片在高寒、高溫環(huán)境下的穩(wěn)定性。
- 車載電子模塊測(cè)試:用于發(fā)動(dòng)機(jī) ECU、變速箱 TCU、車身控制模塊 BCM、車載娛樂(lè)系統(tǒng)的恒定溫老化與高低溫循環(huán)測(cè)試,驗(yàn)證模塊在整車生命周期內(nèi)的可靠性,降低裝車故障風(fēng)險(xiǎn)。
- 汽車傳感器測(cè)試:針對(duì)車載雷達(dá)、胎壓傳感器、溫度傳感器、加速度傳感器的高低溫環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試,模擬不同行駛場(chǎng)景溫度變化,確保傳感器信號(hào)輸出精準(zhǔn)度。
- 新能源汽車三電系統(tǒng)測(cè)試:適配電池管理系統(tǒng) BMS、電機(jī)控制器、充電樁模塊的高低溫老化與可靠性測(cè)試,-60℃低溫模擬冬季充電場(chǎng)景,120℃高溫模擬電池包工作溫升,保障三電系統(tǒng)安全穩(wěn)定運(yùn)行。
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汽車線束與連接器測(cè)試:用于汽車高低壓線束、接插件的高低溫循環(huán)老化測(cè)試,驗(yàn)證其在溫度變化下的絕緣性能、插拔壽命與連接可靠性。






