產(chǎn)品詳情
輕巧便攜，高性能檢測解決方案
OmniScan SX是一款專為滿足各種工業(yè)檢測需求而設(shè)計的高效、經(jīng)濟實惠的無損檢測設(shè)備。它集成了相控陣（PA）和傳統(tǒng)超聲波（UT）技術(shù)，提供了一個直觀易用的界面，使得操作人員能夠快速準確地完成復雜的檢測任務。
主要型號
SX PA：配備16:64PR相控陣單元，適用于脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD（衍射時差）檢測。
SX UT：僅具有UT通道，適合傳統(tǒng)的超聲波檢測方法。
核心特點與優(yōu)勢
卓越的人機交互體驗：8.4英寸觸摸屏提供了全屏模式選項，增強了可視性，并簡化了菜單操作，包括縮放、閘門調(diào)節(jié)等功能。
高性價比：對于預算有限但需要高質(zhì)量檢測結(jié)果的應用場景，OmniScan SX提供了極高的性價比。
便攜性：相較于前代產(chǎn)品，重量減輕33%，體積減小50%，極大地提升了現(xiàn)場工作的便捷性。
強大的兼容性：完全兼容奧林巴斯的各種掃查器、探頭及附件，以及NDT SetupBuilder和OmniPC軟件，形成完整的檢測流程。
軟件功能增強
新增導出C掃描、端視圖組融合、交錯功能等好用特性。
分析模式下的衰減增益功能，滾動布局便于數(shù)據(jù)解讀。
提供更多交互式菜單以提高訪問效率。
應用領(lǐng)域
焊縫檢測：支持多種焊接標準，如ASME、API等，提供高速探測和缺陷指示判讀功能。
腐蝕成像：通過相控陣技術(shù)實現(xiàn)大面積覆蓋和高分辨率成像，特別適合于復雜幾何形狀材料的檢測。
復合材料檢測：利用其靈活配置，可以有效識別分層、脫粘等多種缺陷類型。
配套工具
NDT SetupBuilder：用于創(chuàng)建和模擬檢測方案，優(yōu)化聲束路徑并直接導入至OmniScan SX中。
OmniPC：基于PC的數(shù)據(jù)分析軟件，提供與OmniScan相同的分析和報告工具，增加靈活性。
OmniScan SX憑借其緊湊的設(shè)計、友好的用戶界面以及廣泛的適用性，成為從制造到維護各個階段的理想選擇。無論是進行精確的焊縫檢查還是復雜的材料評估，這款儀器都能提供可靠的支持，確保資產(chǎn)的安全性和完整性。
便攜式相控陣探傷儀：https://industrial.evidentscientific.com.cn/ja/ut-flaw/
OmniScan SX是一款專為滿足各種工業(yè)檢測需求而設(shè)計的高效、經(jīng)濟實惠的無損檢測設(shè)備。它集成了相控陣（PA）和傳統(tǒng)超聲波（UT）技術(shù)，提供了一個直觀易用的界面，使得操作人員能夠快速準確地完成復雜的檢測任務。
主要型號
SX PA：配備16:64PR相控陣單元，適用于脈沖回波、一發(fā)一收或TOFD（衍射時差）檢測。
SX UT：僅具有UT通道，適合傳統(tǒng)的超聲波檢測方法。
核心特點與優(yōu)勢
卓越的人機交互體驗：8.4英寸觸摸屏提供了全屏模式選項，增強了可視性，并簡化了菜單操作，包括縮放、閘門調(diào)節(jié)等功能。
高性價比：對于預算有限但需要高質(zhì)量檢測結(jié)果的應用場景，OmniScan SX提供了極高的性價比。
便攜性：相較于前代產(chǎn)品，重量減輕33%，體積減小50%，極大地提升了現(xiàn)場工作的便捷性。
強大的兼容性：完全兼容奧林巴斯的各種掃查器、探頭及附件，以及NDT SetupBuilder和OmniPC軟件，形成完整的檢測流程。
軟件功能增強
新增導出C掃描、端視圖組融合、交錯功能等好用特性。
分析模式下的衰減增益功能，滾動布局便于數(shù)據(jù)解讀。
提供更多交互式菜單以提高訪問效率。
應用領(lǐng)域
焊縫檢測：支持多種焊接標準，如ASME、API等，提供高速探測和缺陷指示判讀功能。
腐蝕成像：通過相控陣技術(shù)實現(xiàn)大面積覆蓋和高分辨率成像，特別適合于復雜幾何形狀材料的檢測。
復合材料檢測：利用其靈活配置，可以有效識別分層、脫粘等多種缺陷類型。
配套工具
NDT SetupBuilder：用于創(chuàng)建和模擬檢測方案，優(yōu)化聲束路徑并直接導入至OmniScan SX中。
OmniPC：基于PC的數(shù)據(jù)分析軟件，提供與OmniScan相同的分析和報告工具，增加靈活性。
OmniScan SX憑借其緊湊的設(shè)計、友好的用戶界面以及廣泛的適用性，成為從制造到維護各個階段的理想選擇。無論是進行精確的焊縫檢查還是復雜的材料評估，這款儀器都能提供可靠的支持，確保資產(chǎn)的安全性和完整性。
便攜式相控陣探傷儀：https://industrial.evidentscientific.com.cn/ja/ut-flaw/
