產(chǎn)品詳情
高速3D成像與Z軸穩(wěn)定性
IXplore IX85 Spin 通過其先進的轉(zhuǎn)盤共聚焦技術,支持在寬視場下進行高效三維數(shù)據(jù)采集,特別適用于連續(xù)動態(tài)過程的高精度記錄。TruFocus Z漂移補償系統(tǒng)確保在長時間運行中每一幀圖像的清晰度,避免因位置偏移導致的數(shù)據(jù)失真,從而提升整體成像的準確性和重復性。
系統(tǒng)配備 X Line光學組件,優(yōu)化了光信號的收集效率,進一步增強圖像對比度和細節(jié)還原能力。此外,新型 LUPLAPO25XS 多層介質(zhì)物鏡結(jié)合自動校正技術,實現(xiàn)了更高的數(shù)值孔徑與長工作距離,使用戶能夠深入探測復雜樣本內(nèi)部結(jié)構,如多層薄膜、微流控芯片等。
清晰圖像與深度解析能力
借助 TruSight 圖像優(yōu)化算法,IXplore IX85 Spin 在大深度范圍內(nèi)依然能提供高質(zhì)量的三維圖像。Yokogawa 轉(zhuǎn)盤裝置獨特的針孔排列設計有效抑制背景干擾,提高圖像清晰度,尤其適用于多通道信號同步采集和拼接處理。
多通道同步成像與擴展性
IXplore IX85 Spin 支持多波長光源配置,激光模塊可從兩條擴展至六條(包括405 nm、445 nm、488 nm、514 nm、561 nm 和 640 nm),并兼容多傳感器協(xié)同工作,滿足高速、多參數(shù)信息同步采集的需求,適用于復雜系統(tǒng)的實時監(jiān)測。
作為 IXplore IX85 顯微鏡系統(tǒng)的升級版本,IXplore IX85 Spin 提供更廣視野、更快采集速度及更高圖像質(zhì)量,是先進材料研究、微納加工檢測以及工業(yè)分析中不可或缺的成像平臺。無論是微觀結(jié)構演化、表面形貌追蹤,還是復合材料內(nèi)部特征識別,IXplore IX85 Spin 均能提供穩(wěn)定高效的解決方案。
全電動倒置顯微鏡:https://lifescience.evidentscientific.com.cn
產(chǎn)品連接:https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/microscopes/inverted/ixplore-ix85-spin/

