出售日本NoiseKen ESS-6008 靜電發(fā)生器
原裝正品！出售日本NoiseKen ESS-6008 靜電發(fā)生器（靜電槍）

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ESS-6008半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器,靜電是沿著物體移動(dòng)而產(chǎn)生,而物體包含正、負(fù)電的電配置,當(dāng)其配置失序,而傾向?yàn)橐粋€(gè)極性時(shí),靜電即產(chǎn)生,這個(gè)現(xiàn)象就稱為”帶電”,“帶電”主要是因?yàn)榻佑|,磨擦及剝落而產(chǎn)生;同時(shí),靜電還有另一種現(xiàn)象稱為”感應(yīng)帶電”。此外,盡管有些時(shí)候,當(dāng)脫下毛線衣及在干燥狀態(tài)下接觸車輛門把時(shí)可能會(huì)有火花產(chǎn)生而也稱為靜電,正確地說(shuō),它應(yīng)該稱為”靜電放電(ESD)”。

 

     ESS-6008半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器國(guó)內(nèi)又叫做日本NOISEKEN ESS-6002/ESS-6008 LED靜電分析儀，即可以測(cè)試人體和機(jī)械兩種模式的靜電測(cè)試儀。而在當(dāng)下LED行業(yè)發(fā)展迅猛，很多企業(yè)又將之稱做LED靜電分析儀。日本NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008半導(dǎo)體器件靜電放電模擬發(fā)生器已經(jīng)生產(chǎn)10多年，最高機(jī)械模式可以達(dá)到8KV,并已經(jīng)得到各行業(yè)的廣泛認(rèn)可。相比國(guó)內(nèi)的一些剛生產(chǎn)一年左右的產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，穩(wěn)定性、精密性、認(rèn)可度優(yōu)勢(shì)已十分明顯。作為專業(yè)從事EMC設(shè)備研發(fā)與生產(chǎn)，和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的制定者，NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008以它的卓越功能被廣泛認(rèn)可。 

 

  在我們?nèi)粘Ｉ钪?僅僅只是穿鞋及走在地毯上,很容易就可產(chǎn)生30kV靜電?！癗oiseKen”ESD模擬試驗(yàn)器(ESS-S3011/ESS-B3011/ESS-L1611)可再現(xiàn)及模擬來(lái)自帶電人體的ESD,用意是要測(cè)試電子設(shè)備在ESD影響下是否能正確地操作或發(fā)生故障?而且,模擬試驗(yàn)器符合由IEC國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化的IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)。而用于測(cè)試電子組件如半導(dǎo)體的ESD模擬試驗(yàn)器,有ESS-6008(請(qǐng)參考目錄上之合格標(biāo)準(zhǔn))。發(fā)生故障的過(guò)程是,當(dāng)ESD發(fā)生到一電子設(shè)備時(shí),表面電流在體表流動(dòng),而電位上升,結(jié)果,GND的電位變動(dòng),而接著產(chǎn)生電/磁雜訊,噪聲流到內(nèi)部與電路耦合,因此,造成故障(請(qǐng)參下圖)。 由于這個(gè)現(xiàn)象可輕易地頻繁產(chǎn)生,因此,對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行測(cè)試乃是必須的。

 

特 點(diǎn)

 

考查實(shí)際上給電子設(shè)備安裝半導(dǎo)體元件時(shí)，半導(dǎo)體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗(yàn)器。半導(dǎo)體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導(dǎo)致產(chǎn)品特性裂化，誤動(dòng)作的現(xiàn)象。對(duì)于此靜電破壞試驗(yàn)，只需利用1 臺(tái)弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡(jiǎn)單實(shí)行人體帶電型，機(jī)器帶電型的試驗(yàn)。還有，可用選件中的精密型支架可對(duì)超細(xì)密間距元件做半自動(dòng)的試驗(yàn)。最適合用于進(jìn)行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗(yàn)。精密型支架

 

·      可做最高輸出電壓±8KV 試驗(yàn)（ESS-6008）

 

·      可做出留有余量的試驗(yàn)

 

·      可對(duì)各種間距的受測(cè)元件進(jìn)行靜電施加試驗(yàn)

 

·      可搭配精密測(cè)臺(tái)，以半自動(dòng)（Y 軸）的腳位移動(dòng)而正確的對(duì)待

 

·      測(cè)物施加靜電

 

·      可做最低試驗(yàn)電壓±10V 的試驗(yàn)（ESS-6002）

 

·      對(duì)于低電壓驅(qū)動(dòng)元件的評(píng)價(jià)可從10V 開(kāi)始以1V 的步長(zhǎng)予施加

 

·      可對(duì)應(yīng)規(guī)格 

 

對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)

 

人體模型試驗(yàn) (HBM)

機(jī)械模型試驗(yàn) (MM)

AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003

AEC-Q100-003-REV-E  Jul.2003

ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001

ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999

IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002

IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002

IEC 60749-26 Ed.1.0 2003

IEC 60749-27 Ed.1.0 2003

JEDEC JESD22-A114E Jan 2007

JEDEC JESD22-A115A Oct.1997

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test bbbbbb304

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001

MIL-STD-883G bbbbbb 3015.7 Mar.1989

 

 

規(guī)格

 

半導(dǎo)體器件靜電放電模擬試驗(yàn)器 (ESS-6002/ESS-6008)

 

項(xiàng)目

功能/性能

ESS-6002

ESS-6008

輸出電壓

10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進(jìn)

100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步進(jìn)

輸出極性

正或負(fù)

重復(fù)周期

0.3～99s±10％到10s為止0.1s步進(jìn) 10s以后1s步進(jìn)

放電次數(shù) 

1～99次/連續(xù)

Automatic output voltage ramping

Available

尺寸

（W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）

尺寸

約6kg

 

簡(jiǎn)易型探針臺(tái) <18-00075A>

 

項(xiàng)目

功能/性能

尺寸/重量（探針臺(tái)主機(jī)）

(W)200×(H)330×(D)290mm/約1.5kg

尺寸/重量（簡(jiǎn)易放電板） 

(W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/約200g

鉗口尺寸

110mm

其他

POM造V型部件1個(gè) 標(biāo)準(zhǔn)附件

 

半自動(dòng)精密型探針臺(tái) <18-00076A>

 

由于半自動(dòng)精密型探針臺(tái)的最小分辨率為0.01mm，所以可以簡(jiǎn)單地對(duì)毫米間距和英寸間距等極小間距的半導(dǎo)體進(jìn)行試驗(yàn)

 

項(xiàng)目

功能/性能

尺寸/重量

(W)250×(H)400×(D)300mm/約7kg

可對(duì)應(yīng)IC

最大尺寸：40mm角 最小導(dǎo)線間距：0.4mm

X軸

手動(dòng) 移動(dòng)量：20mm ×燕尾槽、進(jìn)給螺桿

Y軸

電動(dòng)（zui大速度：13mm/s）移動(dòng)量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步進(jìn)馬達(dá)&滾珠螺桿

θ軸

手動(dòng) 移動(dòng)量：360°

Z axis

手動(dòng) 移動(dòng)量：20mm *內(nèi)置彈簧下壓式

回原點(diǎn)

手動(dòng)