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無(wú)錫二次元測(cè)量?jī)x探測(cè)系統(tǒng)的關(guān)鍵
對(duì)無(wú)錫二次元測(cè)量?jī)x探測(cè)系統(tǒng)主要還是集中在選擇測(cè)頭上，下面了解一下在選用無(wú)錫二次元測(cè)頭時(shí)需要考慮到的以下幾點(diǎn)：
1）在考慮成本但要求只測(cè)位置、尺寸等要素的情況下，可以采用接觸式觸發(fā)測(cè)頭。觸發(fā)體積較小，當(dāng)測(cè)量空間狹窄時(shí)測(cè)頭易于接近零件，在大量的幾何量測(cè)量中，僅是對(duì)零件的尺寸及位置精度有要求時(shí)，接觸式觸發(fā)測(cè)量是非常合適的。
2）在對(duì)離散點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量及對(duì)形狀和輪廓精度要求較高的情況下，可以選用掃描測(cè)頭。掃描測(cè)頭測(cè)點(diǎn)有更高的精度，對(duì)離散點(diǎn)測(cè)量是勻速或恒測(cè)力采點(diǎn)，掃描測(cè)量能高速的采集數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)不僅可以用來(lái)確定零件的尺寸及位置，更重要的是可以用眾多的點(diǎn)來(lái)精確的描述形狀、輪廓，由于零件形狀直接影響零件的性能，所以掃描測(cè)頭適用于對(duì)形狀、輪廓有嚴(yán)格要求的零件，且掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量也適用嚴(yán)格定位、定向測(cè)量。
3）對(duì)精度不高、容易變形的零件，或者要求很大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量，可以考慮選擇非接觸式測(cè)頭，但在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下，不要選擇非接觸式測(cè)頭。非接觸測(cè)頭沒(méi)有測(cè)量力，適于柔軟物體；非接觸式測(cè)頭取樣率高，由于受物體表面特性形狀，粗糙度等的影響較大，示值誤差比接觸式測(cè)頭要大。（http://www.snicety-china.com/）
