精準鎖定25μm級隱患！高德智感百萬像素熱像儀助力高端電路板熱管理升級

【行業(yè)背景】
在第五代移動通信與AIoT技術驅動下，高密度集成電路板的熱流密度已突破100W/cm2量級。據(jù)IPC-2152標準顯示，每10℃溫升將導致電子元件失效率呈指數(shù)級增長，這使得熱可靠性設計成為高端電子制造的核心挑戰(zhàn)。

【技術痛點解析】
某國家級專精特新企業(yè)在開發(fā)5G基站核心板時遭遇三重技術壁壘：

1. 熱梯度管控難題：400×300mm板面需控制ΔT≤5℃（MIL-STD-810H標準）

2. 微觀缺陷定位：需檢測0.25mm BGA焊點中的5μm級虛焊缺陷

3. 瞬態(tài)熱響應監(jiān)測：要求μs級時間分辨率捕捉功率器件熱沖擊

【創(chuàng)新解決方案】
采用高德智感PT850熱像儀系統(tǒng)（配置3X微距光學組件），構建多維熱診斷方案：

【典型應用場景】

1. 熱分布優(yōu)化：通過偽彩色映射技術，量化PCIe金手指區(qū)域3.2℃溫差，優(yōu)化銅箔厚度分布

2. 缺陷定位：在0.8mm間距QFN封裝中，準確定位兩處μ級焊接空洞（如圖1所示）

3. 可靠性驗證：持續(xù)監(jiān)測1000次熱循環(huán)后，MOSFET結溫漂移≤±1.5%，符合AEC-Q104標準

【技術突破】
PT850搭載的InSb焦平面探測器實現(xiàn)：

• 1024×768像素下55Hz全幅幀頻

• -20~1500℃寬域測溫（±1%精度）

• 3D熱場重建功能，支持與CAD模型比對

【客戶價值】
該方案使客戶：

• 研發(fā)周期縮短40%（從12周降至7周）

• 量產(chǎn)良率提升至99.98%（CPK≥1.67）

• 通過Telcordia SR-332三級認證

【專家點評】
"在μ級熱診斷領域，PT850的12μm空間分辨率重新定義了行業(yè)基準。其熱-力耦合分析模塊為我們的有限元仿真提供了關鍵邊界條件。"——某院士級熱管理實驗室負責人

【延伸應用】
該方案已拓展至：

• 晶圓級封裝熱應力檢測

• 動力電池SEI膜生長監(jiān)測

• 光模塊TO-CAN組件熱特性分析

高德智感持續(xù)深耕智能感知領域，為高端制造提供原子級熱診斷方案，推動中國智造向精密化、可靠性方向演進。