歐奇奧Occhio粒徑分析儀不能開機(jī)維修廠

表6列出了電子產(chǎn)品中使用的一些主要金屬的標(biāo)準(zhǔn)電電勢，從貴金屬金到鎳，金屬更容易被腐蝕，由于金具有很高的標(biāo)準(zhǔn)電電勢，化學(xué)鍍鎳沉金(ENIG)涂層對ECM具有很高的抵抗力，銀還具有相對較高的標(biāo)準(zhǔn)電電勢。
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當(dāng)你的儀器出現(xiàn)如下故障時，如顯示屏不亮、示值偏大、數(shù)據(jù)不準(zhǔn)、測不準(zhǔn)、按鍵失靈、指針不動、指針抖動、測試數(shù)據(jù)偏大、測試數(shù)據(jù)偏小,不能開機(jī)，不顯示等故障，不要慌，找凌科自動化，技術(shù)維修經(jīng)驗(yàn)豐富，維修后有質(zhì)保，維修速度快。

并且?guī)缀鯖]有變化，如29所示，當(dāng)RH87值較低時，幾個數(shù)據(jù)點(diǎn)重疊，在30中可以觀察到RH的臨界過渡區(qū)域，當(dāng)RH增加到臨界范圍時，在RH范圍內(nèi)每增加10%RH，兩個電之間的測試板阻抗便開始以數(shù)量級衰減。 6.6.4金屬芯板的TCE設(shè)計(jì)如上所述，金屬芯板提供了調(diào)整其熱膨脹系數(shù)(TCE)的可能性，可以根據(jù)以下公式計(jì)算得出的TCEa，汐i=第i層中材料的TCE，Ei=第i層中材料的彈性模塊，表6.10給出了重要材料的汐和E值。
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(1)加載指示燈和測量顯微鏡燈不亮
首先檢查電源是否連接好，然后檢查開關(guān)、燈泡等，如果排除這些因素后仍不亮，則需要檢查負(fù)載是否完全施加或開關(guān)是否正常。如果排除后仍不正常，就要從線路（電路）入手，逐步排查。

(2)測量顯微鏡渾濁，壓痕不可見或不清晰
這應(yīng)該從調(diào)整顯微鏡的焦距和光線開始。若調(diào)整后仍不清楚，應(yīng)分別旋轉(zhuǎn)物鏡和目鏡，并分別移動鏡內(nèi)虛線、實(shí)線、劃線的三個平面鏡。仔細(xì)觀察問題出在哪一面鏡子上，然后拆下，用長纖維脫脂棉蘸無水酒精清洗，安裝后按相反順序觀察，然后送修或更換千分尺。
當(dāng)由于與年齡相關(guān)的故障而導(dǎo)致故障率增加時，使用壽命終止，與年齡相關(guān)的故障示例包括絕緣擊穿，電流泄漏增加，電阻損失和電容損失，老化受到電壓差，特定組件上的電壓周期以及其他因素的長期壓力的影響，解決老化公用事業(yè)的基礎(chǔ)設(shè)施發(fā)電廠已充分意識到老化問題。 此外，為了評估PBGA組件抵抗振動疲勞的可靠性，進(jìn)行了具有四個PBGA模塊的PBGA組件的等幅振動疲勞測試(圍繞共振的正弦掃描測試)，并估算了PBGA組件的均失效時間(MTTF)，通過使用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察到PBGA組件容易受到振動。

(3)當(dāng)壓痕不在視野范圍內(nèi)或輕微旋轉(zhuǎn)工作臺時，壓痕位置變化較大
造成這種情況的原因是壓頭、測量顯微鏡和工作臺的軸線不同。由于滑枕固定在工作軸底部，因此應(yīng)按下列順序進(jìn)行調(diào)整。
①調(diào)整主軸下端間隙，保證導(dǎo)向座下端面不直接接觸主軸錐面；
②調(diào)整轉(zhuǎn)軸側(cè)面的螺釘，使工作軸與主軸處于同一中心。調(diào)整完畢后，在試塊上壓出一個壓痕，在顯微鏡下觀察其位置，并記錄；
③輕輕旋轉(zhuǎn)工作臺（保證試塊在工作臺上不移動），在顯微鏡下找出試塊上不旋轉(zhuǎn)的點(diǎn)，即為工作臺的軸線；
④ 稍微松開升降螺桿壓板上的螺絲和底部螺桿，輕輕移動整個升降螺桿，使工作臺軸線與測量顯微鏡上記錄的壓痕位置重合，然后擰緊升降螺桿。壓板螺釘和調(diào)節(jié)螺釘壓出一個壓痕并相互對比。重復(fù)以上步驟，直至完全重合。

(4)檢定中示值超差的原因及解決方法
①測量顯微鏡的刻度不準(zhǔn)確。用標(biāo)準(zhǔn)千分尺檢查。如果沒有，可以修理或更換。
②金剛石壓頭有缺陷。用80倍體視顯微鏡觀察是否符合金剛石壓頭檢定規(guī)程的要求。如果存在缺陷，請更換柱塞。
③ 若負(fù)載超過規(guī)定要求或負(fù)載不穩(wěn)定，可用三級標(biāo)準(zhǔn)小負(fù)載測功機(jī)檢查。如果負(fù)載超過要求（±1.0%）但方向相同，則杠桿比發(fā)生變化。松開主軸保護(hù)帽，轉(zhuǎn)動動力點(diǎn)觸點(diǎn)，調(diào)整負(fù)載（杠桿比），調(diào)整后固定。若負(fù)載不穩(wěn)定，可能是受力點(diǎn)葉片鈍、支點(diǎn)處鋼球磨損、工作軸與主軸不同心、工作軸內(nèi)摩擦力大等原因造成。 。此時應(yīng)檢查刀片和鋼球，如有鈍或磨損，應(yīng)修理或更換。檢查工作軸并清潔。注意軸周圍鋼球的匹配。
在較高氯化物濃度下生長的樹枝狀晶體具有較大的抵抗力，由于樹枝狀晶體的間歇燃燒和重新生長，以較高的氯化物濃度通過電解質(zhì)的電荷較低，Bumiller等人[69]觀察到，氯化物會觸發(fā)樹突生長并在HASL鍍銅金屬上造成均勻腐蝕。 小間距是一個重要的考慮因素，通常，此間距不考慮制造公差的增加(即，大允許的套準(zhǔn)偏差與大的回蝕結(jié)合)，實(shí)際上，在電氣測試期間，去除了非功能焊盤的層之間的鍍通孔之間的走線可能會短路，從而導(dǎo)致單元報(bào)廢，如果確實(shí)必須除去襯墊(例如在撓性或剛性/撓性板中的情況)。

電纜，驅(qū)動器，參數(shù)設(shè)置不正確或軸上的負(fù)載有故障。在進(jìn)行此操作之前，請先閱讀正確的警告警告如果使用脈沖編碼器，則在斷開電纜連接后必須復(fù)位原位。如果歸零位置設(shè)置不當(dāng)，也可能會影響工具更換或托盤更換位置。同樣，如果設(shè)置不正確，則軸可能會移動超過其允許的行程，從而嚴(yán)重?fù)p壞滑道罩，滾珠絲杠等?；揪幋a器故障排除：插頭中的冷卻液污染檢查每個插頭連接器的兩側(cè)。電線全部連接到引腳驅(qū)動器插頭已連接編碼器電纜屏蔽翼形螺釘緊貼插針插入插頭電動機(jī)和驅(qū)動器之間的額外，接線盒或插頭。檢查編碼器蓋內(nèi)部通電時，請用螺絲刀的背面輕敲連接器，以檢查是否存在運(yùn)動或振動問題。移動編碼器電纜，以查看是否發(fā)出警報(bào)。請正確閱讀重要提示。檢查在電纜槽中移動的所有導(dǎo)線是否損壞。

顆粒污染物被證明是灰塵顆粒，如55中的點(diǎn)1所示，在該區(qū)域上積累了許多顆粒污染物，主要成分是Si，Al，Ca和S，與先前的情況一致，散布在污染物上的金屬小顆粒是氧化錫/氫氧化錫，如55中的點(diǎn)2所示，氧化錫/氫氧化錫留在粉塵污染物上。 與Sn在中性水溶液中相比，Pb更加容易遷移，但是，由于存在從塵埃顆粒溶解的SO42-的離子污染，遷移偏好發(fā)生了變化，發(fā)現(xiàn)錫優(yōu)先在本地環(huán)境中遷移，在有灰塵顆粒的情況下，枝晶結(jié)構(gòu)的形態(tài)顯示出許多細(xì)小的分支。 備份問題區(qū)域，但是，您可能沒有預(yù)算為每個伺服組件提供備份，因此，如果您知道哪些自動化設(shè)備組件的故障多，則應(yīng)該至少購買主要問題組件的備份，采購公司，如果您不希望在物品出現(xiàn)故障之前購買備用物品，請確保在物品出現(xiàn)故障之前找到可以運(yùn)送物品的公司并獲得報(bào)價。 可以計(jì)算出塵埃顆粒的表面沉積密度，并且可以估算出適合氣流條件的沉積速度，盡管有關(guān)沉積速度的可用數(shù)據(jù)并不一致，并且在某些情況下稀疏，但表8中列出了[6]中建議的準(zhǔn)則，沉積速度在很大程度上取決于氣流速度和粒徑。 Gerber文件通常包含導(dǎo)體層，阻焊層和絲網(wǎng)印刷層的設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)，此外，當(dāng)涉及具有相同設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)的兩層時，仍應(yīng)分別生成Gerber文件，以避免可能的誤解，不同的PCB設(shè)計(jì)軟，，件具有不同的Gerber文件生成操作步驟。

同樣，萬用表可以幫助實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)。晶體管電路中的預(yù)期電壓如果上的所有輸入均正確無誤，則可以使用萬用表進(jìn)行進(jìn)一步測試，以查找故障并跟蹤問題。同樣，應(yīng)該采用系統(tǒng)的方法。測試特定的晶體管電路時，可以使用萬用表確定電路周圍的電壓是否正確。要測試并查找特定的晶體管電路并進(jìn)行故障檢查，必須了解穩(wěn)定電壓應(yīng)為多少。下面的電路是典型的基本晶體管電路。許多電路都與此相似，并且它為解釋一些要點(diǎn)提供了很好的起點(diǎn)。用萬用表測試晶體管電路時的預(yù)期電壓讀數(shù)用萬用表測試晶體管電路時的預(yù)期電壓讀數(shù)電路顯示了可以在電路中測量電壓的幾個點(diǎn)。其中大多數(shù)是相對于地面測量的。這是進(jìn)行電壓測量的簡單方法，因?yàn)榭梢詫ⅰ肮病被蜇?fù)探針夾到合適的接地點(diǎn)（用于負(fù)線的許多黑色探針為此都配有鱷魚夾或鱷魚夾）。

管芯中的裂紋，不同建筑材料的熱膨脹系數(shù)不匹配，密封缺陷以及塑料中的缺陷包。循環(huán)設(shè)備的溫度限制在40°C至125°C或65°C至150°C的范圍內(nèi)，具體取決于設(shè)備的類別（工業(yè)或用途）。建議的循環(huán)數(shù)為20（至少10）。在端溫度下，停留時間應(yīng)至少為10分鐘。循環(huán)后，將溫度降至25°C，并測量設(shè)備的電氣參數(shù)，并將其與額定規(guī)格進(jìn)行比較。高溫儲存。在此測試中，組件要經(jīng)受比老化測試更高的溫度，但不施加動力或刺激。對于塑料封裝器件，施加的溫度約為150°C；對于密封器件，施加的溫度約為250°C。組件在測試溫度下保持24小時。該測試可以揭示各種問題，包括水分夾帶，金屬化缺陷，硅中的塊狀缺陷，離子污染，表面缺陷。

歐奇奧Occhio粒徑分析儀不能開機(jī)維修廠如果有，過濾后的空氣循環(huán)可能是一種有效的冷卻方法。影響散熱設(shè)計(jì)的兩個問題是社區(qū)對噪音和美觀的嚴(yán)格限制。噪音限制：幾種可能的冷卻方法會產(chǎn)生噪音，例如對流增強(qiáng)風(fēng)扇。社區(qū)開始認(rèn)識到噪聲是一種環(huán)境危害，并對社區(qū)中的設(shè)備施加了噪聲限制。通常，這些限制取決于“土地使用區(qū)域”，例如，對和圖書館區(qū)域的限制通常比對工業(yè)園區(qū)的限制更為嚴(yán)格。Bellcore當(dāng)前為機(jī)箱了60dBA的大噪聲級別[3]。這個級別可能太高了，因?yàn)榄h(huán)境保護(hù)局已將55Ldn（白天/夜晚的均噪聲級別）確定為室外噪聲的理想大級別[7]。美學(xué)：為了獲得鄰居的認(rèn)可/接受并減少涂鴉和故意破壞的可能性，通常會采取措施隱藏或遮蓋住房。例如，在圍墻周圍種植和美化環(huán)境。  kjbaeedfwerfws