產(chǎn)品詳情
斜率越陡，數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)就越緊密，該線在X軸上的位置指示數(shù)據(jù)范圍，PDF圖形看起來很像直方圖，但實(shí)際上它是優(yōu)惠券失效概率的分布，其優(yōu)點(diǎn)是可以輕松理解優(yōu)惠券失效的可視化，本文將描述使用Weibull概率圖進(jìn)行可靠性測試的結(jié)果。
司特爾硬度計(jì)指針不動(dòng)故障維修維修速度快
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國Foundrax、美國GR、美國杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國KB、美國LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢、奧地利Qness、美國Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
或者需要某種方式來備份他們的軟件和HMI(人機(jī)界面)，因此，如果客戶自己做不到，那么他們需要找到可以這樣做的人，因?yàn)楫?dāng)這臺(tái)機(jī)器停機(jī)時(shí)，或者當(dāng)他們剛購買一臺(tái)機(jī)器時(shí)，這里已經(jīng)有一千條梯子邏輯消失了，機(jī)器實(shí)際上是船錨。 在吸濕能力測試中重量增加大的粉塵具有高的阻抗衰減，塵埃水溶液的離子種類/濃度或電導(dǎo)率可用于對與電化學(xué)遷移相關(guān)的故障進(jìn)行塵埃分類，離子濃度和電導(dǎo)率高的粉塵失效時(shí)間短，除實(shí)驗(yàn)研究外，還對電信行業(yè)中許多現(xiàn)場退貨產(chǎn)品進(jìn)行了故障分析。
司特爾硬度計(jì)指針不動(dòng)故障維修維修速度快
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，首先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊中的說明。
測試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
對于單位，可以選擇英寸或毫米，對于格式，提供了三種選擇，高分辨率為5，而低分辨率為3，從AltiumDesigner軟件生成Gerber文件|手推車，圖層在此選項(xiàng)卡中，應(yīng)確定要繪制和鏡像的圖層，可以在需要繪制或鏡像的層的末端標(biāo)記十字。 但在此期間也可能發(fā)生，為了減少錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，需要滿足幾個(gè)變量和要求，這些變量包括房間的環(huán)境，清潔度和人為錯(cuò)誤，房間的環(huán)境(例如濕度)會(huì)影響組件和焊料在組裝時(shí)的作用方式，因此需要滿足環(huán)境條件以控制和減少錯(cuò)誤。 91對于包含散布范圍非常大的電子組件的系統(tǒng)，發(fā)現(xiàn)該精度水已足夠，同樣，在2.PCB上獲得的仿真和測試結(jié)果比1.PCB更好(表5，9)，所遇到的不一致可能是由于這些組件的可接受尺寸存在較大差異，其對疲勞壽命的影響可以在一定程度上反映到模擬中。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測試樣品，長時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
SIR數(shù)據(jù)點(diǎn)不以捕獲有效助焊劑殘留的組件終端為目標(biāo)，SMTA發(fā)布的2016年焊接與可靠性會(huì)議(ICSR)會(huì)議錄圖IPC-B-52測試板設(shè)計(jì)SIR測試板的改進(jìn)設(shè)計(jì)是將SIR數(shù)據(jù)點(diǎn)記入組件終端下的間距中(圖6)。 電力系統(tǒng)，推進(jìn)系統(tǒng)，無線電通信系統(tǒng)，機(jī)器人系統(tǒng)，堅(jiān)固的計(jì)算機(jī)，使用嵌入式處理器的衛(wèi)星子系統(tǒng)，模擬器應(yīng)用PCB的航天應(yīng)用主要包括:，空氣數(shù)據(jù)計(jì)算機(jī)(CADC)，數(shù)字化信號(hào)和微波處理系統(tǒng)，電子飛行儀表系統(tǒng)。 將基于體積濃度的動(dòng)電流密度定義為(6)用(6)除以(3)，我們得到(7)用(7)代替(5)兩側(cè)的項(xiàng)，我們有(8)將方程式的兩邊除以(i﹞ik)，我們就有(9)方程式(9)給出了可測量的總電流密度與兩個(gè)量之間的關(guān)系。
字母根據(jù)以下代碼指示設(shè)備的應(yīng)用領(lǐng)域和風(fēng)味：SA：PNPHF晶體管SB：PNPAF晶體管SC：NPNHF晶體管SD：NPNAF晶體管SE：二極管SF：晶閘管SG：Gunn器件SH：單結(jié)晶體管SJ：P溝道FET/MOSFETSK：N溝道FET/MOSFETSM：雙向可控硅SQ：LEDSR：整流器SS：信號(hào)二極管ST：雪崩二極管SV：VaricapsSZ：齊納二極管序列號(hào)從10到9999。（可選）后綴表示該類型已被各種日本組織批準(zhǔn)使用。注意。由于晶體管的代碼始終以2S開頭，因此有時(shí)（似乎并非總是如此）被省略，因此，例如2SC733將標(biāo)記為C733。親電子。這些形式如下：兩個(gè)字母，[字母]，序列號(hào)，[后綴]個(gè)字母表示材料：A=GeB=SiC=GaAsR=復(fù)合材料不用說。
其中第二層到第七層是用ALIVH技術(shù)制造的，然后是兩個(gè)外層在隨后的步驟中，添加HDI技術(shù)，預(yù)期厚度列顯示了在PCB設(shè)計(jì)階段計(jì)算得出的板的厚度值，由于本研究的目標(biāo)應(yīng)用來自移動(dòng)設(shè)備領(lǐng)域，因此，所有使用的介電材料均已從大量用于PCB批量生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)材料中選擇。 Fanuc，三菱，西門子，DriveCliq，Yaskawa，SSI，IVpp，TTL和lluApp接口的任何版本，維修區(qū)也有大量的Heidenhain線性秤過剩庫存滿足長期廢棄的的需求，請放心，如果您為下一次Heidenhain維修選擇[維修區(qū)域"。 然后，有兩種必要的步驟來確定使用此方法的測試條件:基于從現(xiàn)場收集的粉塵樣品的表征和使用條件的表征來選擇測試粉塵，由于不同粉塵樣品對可靠性的影響存在顯著差異，因此需要收集和表征粉塵樣品，而粉塵樣品的可靠性又是由吸濕能力。 對于單位，可以選擇英寸或毫米，對于格式，提供了三種選擇，高分辨率為5，而低分辨率為3，從AltiumDesigner軟件生成Gerber文件|手推車，圖層在此選項(xiàng)卡中，應(yīng)確定要繪制和鏡像的圖層，可以在需要繪制或鏡像的層的末端標(biāo)記十字。 這些可能包括以下一些:電容溫度頻率晶體管測試–HFE等連續(xù)性(蜂鳴器)自動(dòng)量程選擇-為測試的數(shù)量選擇正確的范圍，以便顯示高有效數(shù)字，自動(dòng)極性直流讀數(shù)，顯示施加的電壓是正還是負(fù)采樣并保持-在將儀器從被測電路中拔出后。
GmbH。Cadence攝氏溫度求解器與Virtuoso臺(tái)緊密集成，這使得高級(jí)電路，布局和封裝設(shè)計(jì)人員可以輕松，直接地訪問電熱仿真。攝氏溫度求解器提供快速的周轉(zhuǎn)時(shí)間和準(zhǔn)確的結(jié)果。我們將能夠探索更多的設(shè)計(jì)變體，并將電熱仿真用于新的用例，直到為止，這些新的用例還是遙不可及。”Vicki說：“諸如3D-IC和面對面晶圓鍵合之類的封裝技術(shù)可增強(qiáng)電子系統(tǒng)從移動(dòng)到高性能計(jì)算應(yīng)用的性能，但由于電效應(yīng)和熱效應(yīng)之間的強(qiáng)耦合而帶來新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)?！盇rm工程組系統(tǒng)工程副總裁Mitchell?！皩z氏溫度求解器添加到Cadence的系統(tǒng)分析產(chǎn)品組合中，使我們共同的客戶可以交付下一代電子系統(tǒng)，因?yàn)槲覀儸F(xiàn)在能夠在設(shè)計(jì)流程中支持熱和電的協(xié)同仿真。
也有望實(shí)現(xiàn)可靠性。在維修或恢復(fù)和恢復(fù)長壽命后，也希望具有可靠性。可靠性是通過前期活動(dòng)設(shè)計(jì)到系統(tǒng)中的，而可靠的維護(hù)是通過對系統(tǒng)的仔細(xì)操作以及對系統(tǒng)的精心維護(hù)和持續(xù)維護(hù)活動(dòng)來實(shí)現(xiàn)的?？煽啃钥偸且怨收隙K止，而故障的根源可能是系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，制造，安裝，操作，維護(hù)（維修和定期服務(wù)）以及系統(tǒng)管理—簡而言之，有許多方法和方法可以殺死系統(tǒng)。但是很少有保持運(yùn)作的方法，不會(huì)失敗。哪里：格言說：“布丁的證明就在進(jìn)食中”，并且出于可靠性考慮，系統(tǒng)的證明就在無故障的長間隔內(nèi)。通過使用許多工具，可靠性工具從頭到尾都用于證明高可靠性（長時(shí)間不出現(xiàn)故障），例如：可靠性驗(yàn)收測試以證明使用壽命長；可靠性分析以計(jì)算預(yù)期結(jié)果；可靠性和可維護(hù)性預(yù)測元素預(yù)期結(jié)果的數(shù)學(xué)任務(wù)；
司特爾硬度計(jì)指針不動(dòng)故障維修維修速度快以小化其RF/微波濾波器的尺寸。這種材料的常用介電常數(shù)值為10.2，通常是基于聚四氟乙烯（PTFE）的材料。盡管填充的PTFE基材具有出色的電性能，但其吸濕性可能約為0.25％。盡管與大多數(shù)PCB材料相比這是一個(gè)相對較小的值，但具有此吸水率值的PCB材料在高濕度條件下會(huì)表現(xiàn)出介電常數(shù)和耗散因數(shù)的顯著變化，可能導(dǎo)致濾波器超出其通帶損耗的性能極限或中心頻率和通帶偏離預(yù)期值。羅杰斯公司的RT/duroid6010.2LM微波層壓板。是一種將陶瓷填料與PTFE混合在一起的復(fù)合材料，具有穩(wěn)定的性能和低吸濕性。該材料具有z方向和10.2GHz的高介電常數(shù)，具有±0.25的容差，并且具有僅為0.0028的耗散因數(shù)。 kjbaeedfwerfws
司特爾硬度計(jì)指針不動(dòng)故障維修維修速度快
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國Foundrax、美國GR、美國杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國KB、美國LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢、奧地利Qness、美國Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
或者需要某種方式來備份他們的軟件和HMI(人機(jī)界面)，因此，如果客戶自己做不到，那么他們需要找到可以這樣做的人，因?yàn)楫?dāng)這臺(tái)機(jī)器停機(jī)時(shí)，或者當(dāng)他們剛購買一臺(tái)機(jī)器時(shí)，這里已經(jīng)有一千條梯子邏輯消失了，機(jī)器實(shí)際上是船錨。 在吸濕能力測試中重量增加大的粉塵具有高的阻抗衰減，塵埃水溶液的離子種類/濃度或電導(dǎo)率可用于對與電化學(xué)遷移相關(guān)的故障進(jìn)行塵埃分類，離子濃度和電導(dǎo)率高的粉塵失效時(shí)間短，除實(shí)驗(yàn)研究外，還對電信行業(yè)中許多現(xiàn)場退貨產(chǎn)品進(jìn)行了故障分析。
司特爾硬度計(jì)指針不動(dòng)故障維修維修速度快
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，首先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊中的說明。
測試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
對于單位，可以選擇英寸或毫米，對于格式，提供了三種選擇，高分辨率為5，而低分辨率為3，從AltiumDesigner軟件生成Gerber文件|手推車，圖層在此選項(xiàng)卡中，應(yīng)確定要繪制和鏡像的圖層，可以在需要繪制或鏡像的層的末端標(biāo)記十字。 但在此期間也可能發(fā)生，為了減少錯(cuò)誤的風(fēng)險(xiǎn)，需要滿足幾個(gè)變量和要求，這些變量包括房間的環(huán)境，清潔度和人為錯(cuò)誤，房間的環(huán)境(例如濕度)會(huì)影響組件和焊料在組裝時(shí)的作用方式，因此需要滿足環(huán)境條件以控制和減少錯(cuò)誤。 91對于包含散布范圍非常大的電子組件的系統(tǒng)，發(fā)現(xiàn)該精度水已足夠，同樣，在2.PCB上獲得的仿真和測試結(jié)果比1.PCB更好(表5，9)，所遇到的不一致可能是由于這些組件的可接受尺寸存在較大差異，其對疲勞壽命的影響可以在一定程度上反映到模擬中。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測試樣品，長時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
SIR數(shù)據(jù)點(diǎn)不以捕獲有效助焊劑殘留的組件終端為目標(biāo)，SMTA發(fā)布的2016年焊接與可靠性會(huì)議(ICSR)會(huì)議錄圖IPC-B-52測試板設(shè)計(jì)SIR測試板的改進(jìn)設(shè)計(jì)是將SIR數(shù)據(jù)點(diǎn)記入組件終端下的間距中(圖6)。 電力系統(tǒng)，推進(jìn)系統(tǒng)，無線電通信系統(tǒng)，機(jī)器人系統(tǒng)，堅(jiān)固的計(jì)算機(jī)，使用嵌入式處理器的衛(wèi)星子系統(tǒng)，模擬器應(yīng)用PCB的航天應(yīng)用主要包括:，空氣數(shù)據(jù)計(jì)算機(jī)(CADC)，數(shù)字化信號(hào)和微波處理系統(tǒng)，電子飛行儀表系統(tǒng)。 將基于體積濃度的動(dòng)電流密度定義為(6)用(6)除以(3)，我們得到(7)用(7)代替(5)兩側(cè)的項(xiàng)，我們有(8)將方程式的兩邊除以(i﹞ik)，我們就有(9)方程式(9)給出了可測量的總電流密度與兩個(gè)量之間的關(guān)系。
字母根據(jù)以下代碼指示設(shè)備的應(yīng)用領(lǐng)域和風(fēng)味：SA：PNPHF晶體管SB：PNPAF晶體管SC：NPNHF晶體管SD：NPNAF晶體管SE：二極管SF：晶閘管SG：Gunn器件SH：單結(jié)晶體管SJ：P溝道FET/MOSFETSK：N溝道FET/MOSFETSM：雙向可控硅SQ：LEDSR：整流器SS：信號(hào)二極管ST：雪崩二極管SV：VaricapsSZ：齊納二極管序列號(hào)從10到9999。（可選）后綴表示該類型已被各種日本組織批準(zhǔn)使用。注意。由于晶體管的代碼始終以2S開頭，因此有時(shí)（似乎并非總是如此）被省略，因此，例如2SC733將標(biāo)記為C733。親電子。這些形式如下：兩個(gè)字母，[字母]，序列號(hào)，[后綴]個(gè)字母表示材料：A=GeB=SiC=GaAsR=復(fù)合材料不用說。
其中第二層到第七層是用ALIVH技術(shù)制造的，然后是兩個(gè)外層在隨后的步驟中，添加HDI技術(shù)，預(yù)期厚度列顯示了在PCB設(shè)計(jì)階段計(jì)算得出的板的厚度值，由于本研究的目標(biāo)應(yīng)用來自移動(dòng)設(shè)備領(lǐng)域，因此，所有使用的介電材料均已從大量用于PCB批量生產(chǎn)的標(biāo)準(zhǔn)材料中選擇。 Fanuc，三菱，西門子，DriveCliq，Yaskawa，SSI，IVpp，TTL和lluApp接口的任何版本，維修區(qū)也有大量的Heidenhain線性秤過剩庫存滿足長期廢棄的的需求，請放心，如果您為下一次Heidenhain維修選擇[維修區(qū)域"。 然后，有兩種必要的步驟來確定使用此方法的測試條件:基于從現(xiàn)場收集的粉塵樣品的表征和使用條件的表征來選擇測試粉塵，由于不同粉塵樣品對可靠性的影響存在顯著差異，因此需要收集和表征粉塵樣品，而粉塵樣品的可靠性又是由吸濕能力。 對于單位，可以選擇英寸或毫米，對于格式，提供了三種選擇，高分辨率為5，而低分辨率為3，從AltiumDesigner軟件生成Gerber文件|手推車，圖層在此選項(xiàng)卡中，應(yīng)確定要繪制和鏡像的圖層，可以在需要繪制或鏡像的層的末端標(biāo)記十字。 這些可能包括以下一些:電容溫度頻率晶體管測試–HFE等連續(xù)性(蜂鳴器)自動(dòng)量程選擇-為測試的數(shù)量選擇正確的范圍，以便顯示高有效數(shù)字，自動(dòng)極性直流讀數(shù)，顯示施加的電壓是正還是負(fù)采樣并保持-在將儀器從被測電路中拔出后。
GmbH。Cadence攝氏溫度求解器與Virtuoso臺(tái)緊密集成，這使得高級(jí)電路，布局和封裝設(shè)計(jì)人員可以輕松，直接地訪問電熱仿真。攝氏溫度求解器提供快速的周轉(zhuǎn)時(shí)間和準(zhǔn)確的結(jié)果。我們將能夠探索更多的設(shè)計(jì)變體，并將電熱仿真用于新的用例，直到為止，這些新的用例還是遙不可及。”Vicki說：“諸如3D-IC和面對面晶圓鍵合之類的封裝技術(shù)可增強(qiáng)電子系統(tǒng)從移動(dòng)到高性能計(jì)算應(yīng)用的性能，但由于電效應(yīng)和熱效應(yīng)之間的強(qiáng)耦合而帶來新的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)?！盇rm工程組系統(tǒng)工程副總裁Mitchell?！皩z氏溫度求解器添加到Cadence的系統(tǒng)分析產(chǎn)品組合中，使我們共同的客戶可以交付下一代電子系統(tǒng)，因?yàn)槲覀儸F(xiàn)在能夠在設(shè)計(jì)流程中支持熱和電的協(xié)同仿真。
也有望實(shí)現(xiàn)可靠性。在維修或恢復(fù)和恢復(fù)長壽命后，也希望具有可靠性。可靠性是通過前期活動(dòng)設(shè)計(jì)到系統(tǒng)中的，而可靠的維護(hù)是通過對系統(tǒng)的仔細(xì)操作以及對系統(tǒng)的精心維護(hù)和持續(xù)維護(hù)活動(dòng)來實(shí)現(xiàn)的?？煽啃钥偸且怨收隙K止，而故障的根源可能是系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，制造，安裝，操作，維護(hù)（維修和定期服務(wù)）以及系統(tǒng)管理—簡而言之，有許多方法和方法可以殺死系統(tǒng)。但是很少有保持運(yùn)作的方法，不會(huì)失敗。哪里：格言說：“布丁的證明就在進(jìn)食中”，并且出于可靠性考慮，系統(tǒng)的證明就在無故障的長間隔內(nèi)。通過使用許多工具，可靠性工具從頭到尾都用于證明高可靠性（長時(shí)間不出現(xiàn)故障），例如：可靠性驗(yàn)收測試以證明使用壽命長；可靠性分析以計(jì)算預(yù)期結(jié)果；可靠性和可維護(hù)性預(yù)測元素預(yù)期結(jié)果的數(shù)學(xué)任務(wù)；
司特爾硬度計(jì)指針不動(dòng)故障維修維修速度快以小化其RF/微波濾波器的尺寸。這種材料的常用介電常數(shù)值為10.2，通常是基于聚四氟乙烯（PTFE）的材料。盡管填充的PTFE基材具有出色的電性能，但其吸濕性可能約為0.25％。盡管與大多數(shù)PCB材料相比這是一個(gè)相對較小的值，但具有此吸水率值的PCB材料在高濕度條件下會(huì)表現(xiàn)出介電常數(shù)和耗散因數(shù)的顯著變化，可能導(dǎo)致濾波器超出其通帶損耗的性能極限或中心頻率和通帶偏離預(yù)期值。羅杰斯公司的RT/duroid6010.2LM微波層壓板。是一種將陶瓷填料與PTFE混合在一起的復(fù)合材料，具有穩(wěn)定的性能和低吸濕性。該材料具有z方向和10.2GHz的高介電常數(shù)，具有±0.25的容差，并且具有僅為0.0028的耗散因數(shù)。 kjbaeedfwerfws
