產(chǎn)品詳情
無錫優(yōu)肯高低溫試驗箱UGDW-100
1. 容積和尺寸：
3.1標稱內(nèi)容積(L)：100L
3.2標稱內(nèi)箱尺寸（mm）：W500×D400×H500
3.3 標稱外箱尺寸（mm）：1010×1070×1650mm（參考）
2. 性能：
4.1 測試環(huán)境條件：
設備四周氣流暢通，無高濃度粉塵，無腐蝕性或易燃易爆性氣體
環(huán)境溫度：5～35℃
相對濕度：≤85%RH
4.2測試方法：
4.2.1 溫度范圍：-40℃～+150℃
4.2.2 溫度波動度：±0.5℃
4.2.3 溫度偏差：± 2.0℃
4.2.4 溫度變化速率：
4.2.4.1由+25℃升至+150℃約需40分鐘(空載時)
4.2.4.2由+25℃降至-40℃約需70分鐘(空載時)
4.2.5 濕度范圍：20～98%RH (+20℃～+85℃)
4.2.6 相對濕度偏差：
±2.0%RH（濕度 ＞ 75%RH）
±3.0%RH（濕度 ≤ 75%RH）
以上指標均為箱內(nèi)無試樣負載情況下測試（有特殊說明者除外）。
4.2.7 滿足試驗標準：
1. GB2423.22－2002 試驗N 溫度變化試驗方法
2. GB-T2423.3-2006（IEC6008-2-78-2001） 試驗cab：恒定濕熱試驗方法
3. GJB150.3A－2009 高溫試驗方法
4. GJB150.4A－2009 低溫試驗方法
5. GJB150.9A-2009 濕熱試驗方法
6. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
7. GBT 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
8. GBT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005交變濕熱方法
9. GB-T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備
