產(chǎn)品詳情
SuperViewW1白光干涉儀以白光干涉技術為原理，采用了CCD取代了顯微鏡中的目鏡，可以直接從電腦上實時視頻窗口觀察樣品表面形貌，也可以通過重建后的樣品表面3D圖像觀察表面形貌，樣品表面形貌展示得更加清晰，圖像更大，觀察更加方便。是一款專用于超精密加工領域的光學檢測儀器，其分辨率可達0.1nm。
技術指標
產(chǎn)品型號：SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱：光學3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng)：1024×1024
光學ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選）
干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選）
XY平臺：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動、手動同時具備，均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程：100mm，電動
Z向掃描范圍：10mm
Z向分辨率：0.1nm
水平調(diào)整：±5°手動
粗糙度RMS重復性：0.005nm
臺階高測量：準確度0.3%，重復性0.08% 1σ
主要特點：非接觸式無損檢測，一鍵分析、測量速度快、效率高
生產(chǎn)企業(yè)：深圳市中圖儀器股份有限公司
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測量方法
1. 點擊XY復位，使得鏡頭復位到載物臺中心
2. 將被測物放置在載物臺夾具上，被測物中心大致和載物臺中心重合；
3.確認電機連接狀態(tài)和環(huán)境噪聲狀態(tài)滿足測量條件；
4.使用操縱桿搖桿旋鈕調(diào)節(jié)鏡頭高度，找到干涉條紋；
5.設置好掃描方式和掃描范圍；
6.點擊選項圖標，確認自動找條紋上下限無誤；
7.點擊多區(qū)域測量圖標，可選擇方形和（橢）圓形兩種測量區(qū)域形狀；
8.根據(jù)被測物形狀和尺寸，"形狀"欄選擇“橢圓平面"，X和Y方向按需設置；
9.點擊彈出框右下角的“開始"圖標，儀器即自動完成多個區(qū)域的對焦、找條紋、掃面等操作。
SuperViewW1白光干涉儀應用
在集成電路行業(yè)，SuperView W1系列白光干涉儀可以測量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度；
在3C領域，SuperView W1系列白光干涉儀可以測量藍寶石屏、濾光片、表殼等表面粗糙度；
在EMES行業(yè)，SuperView W1系列白光干涉儀可以測量臺階高度和表面粗糙度；
在光纖通信行業(yè)，SuperView W1系列白光干涉儀可以測量光纖端面缺陷和粗糙度；
在LED行業(yè)，SuperView W1系列白光干涉儀可以測量藍寶石、碳化硅襯底表面粗糙度。
