產(chǎn)品詳情
Langer 10Ghz 近場探頭組SX1
品牌：Langer EMV-Technik
型號：SX1
近場探頭組（1GHz-10GHz）
Sets
SX1 set, 近場探頭組（1GHz-10GHz）
Langer 10Ghz 近場探頭組包含2個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段以高時鐘頻率測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為1GHz到10GHz。SX探頭組的探頭可以緊貼電子模塊進行測量，比如貼近單個集成電路引腳、導線、元件及其連接點，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部有一個終端電阻。
Langer SX1 10Ghz 近場探頭組配置:
1x SX-E 03, 電場探頭（1GHz-10GHz）
1x SX-B 3-1
1x SX-R 3-1, 磁場探頭（1GHz-10GHz）
1x SMA-SMA 1 m es, SMA
1xCase 4(175 x 140x 32) mm
簡短的介紹
SX-E 03電場探頭（1GHz-10GHz）型探針底部的尺寸約為4x4mm，用于檢測定位點的工件源，例如導線、集成電路基板的單個工件。
SX-E 03 是一款無源近場探頭。測量時，由于被測物體上的電場強度較高，因此將探頭直接放置在被測物體上。近場探頭體積小、方便。它有一個電流衰減護套，其上側(cè)是電屏蔽的。它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。
SX-B 3-1 是一款無源近場探頭。它檢測從設備正交發(fā)射的磁場線。未檢測到橫向進入探頭的磁場線。與 SX-R 3-1 磁場探頭相比，SX-B 3-1 探頭的線圈以 90° 角放置。近場探頭體積小、方便。它有一個電流衰減護套，其上側(cè)是電屏蔽的。它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。
SX-R 3-1型磁場探頭尺寸小，用于高精度測量高頻磁場，從而能夠識別出作為備用干擾源的最小元件。，另外由于探頭尺寸小，才能測量難以接近的位置，例如集成電路引腳的周圍區(qū)域。
品牌：Langer EMV-Technik
型號：SX1
近場探頭組（1GHz-10GHz）
Sets
SX1 set, 近場探頭組（1GHz-10GHz）
Langer 10Ghz 近場探頭組包含2個無源近場探頭，用于在研發(fā)階段以高時鐘頻率測量電子模塊上的電場和磁場，頻率范圍為1GHz到10GHz。SX探頭組的探頭可以緊貼電子模塊進行測量，比如貼近單個集成電路引腳、導線、元件及其連接點，從而定位干擾信號源。通過相應地操作近場探頭，能夠測量出電子模塊上電磁場的方向及其分布。這種近場探頭小巧輕便，并具備外皮電流衰減和電屏蔽。 這種近場探頭可以接到頻譜分析儀或示波器的50Ω輸入端。探頭內(nèi)部有一個終端電阻。
Langer SX1 10Ghz 近場探頭組配置:
1x SX-E 03, 電場探頭（1GHz-10GHz）
1x SX-B 3-1
1x SX-R 3-1, 磁場探頭（1GHz-10GHz）
1x SMA-SMA 1 m es, SMA
1xCase 4(175 x 140x 32) mm
簡短的介紹
SX-E 03電場探頭（1GHz-10GHz）型探針底部的尺寸約為4x4mm，用于檢測定位點的工件源，例如導線、集成電路基板的單個工件。
SX-E 03 是一款無源近場探頭。測量時，由于被測物體上的電場強度較高，因此將探頭直接放置在被測物體上。近場探頭體積小、方便。它有一個電流衰減護套，其上側(cè)是電屏蔽的。它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。
SX-B 3-1 是一款無源近場探頭。它檢測從設備正交發(fā)射的磁場線。未檢測到橫向進入探頭的磁場線。與 SX-R 3-1 磁場探頭相比，SX-B 3-1 探頭的線圈以 90° 角放置。近場探頭體積小、方便。它有一個電流衰減護套，其上側(cè)是電屏蔽的。它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。
SX-R 3-1型磁場探頭尺寸小，用于高精度測量高頻磁場，從而能夠識別出作為備用干擾源的最小元件。，另外由于探頭尺寸小，才能測量難以接近的位置，例如集成電路引腳的周圍區(qū)域。
SX-R 3-1 是一款無源近場探頭。探頭非常小，因此適合檢測磁場分布，例如 IC 處的磁場分布。由于其緊湊的設計，SX-R 3-1 可用于難以到達的位置，例如組件之間。它有一個電流衰減護套，其上側(cè)是電屏蔽的。它可以連接到頻譜分析儀或具有 50 Ω 輸入的示波器。
