產(chǎn)品詳情
日本ygkcop雙頭SiC表面粒子掃描儀
YPI-MX-ΘDC SiC / GaN相關(guān),Si /透明/ LT晶片表面異物檢查設(shè)備

雙頭SiC表面粒子掃描儀
采取措施,不漏掉傳統(tǒng)表面顆粒檢查設(shè)備無法檢測(cè)到的SiC表面潛伏期。
通過將雙傳感器安裝在可以檢查透明基板的YPI-MX上,可以進(jìn)行測(cè)量而不會(huì)發(fā)現(xiàn)微小的劃痕缺陷。
通過在兩個(gè)正交軸上布置355 nm(UV)激光器和光接收傳感器,可以消除微小劃痕缺陷的方向依賴性,
并在不忽略SiC襯底的情況下檢測(cè)劃痕缺陷和潛在劃痕。
在5分鐘內(nèi)測(cè)量4英寸SiC晶片,包括等待時(shí)間檢測(cè)測(cè)量。

設(shè)備中雙傳感器測(cè)量結(jié)果的圖像
最小檢測(cè)粒徑為0.1μm。

LT晶片測(cè)量結(jié)果示例
如果是4英寸LT晶片,則可以在大約2分鐘內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。
關(guān)于大功率激光控制


為恒定,從而可以實(shí)現(xiàn)更精確的異物檢測(cè)。
設(shè)備規(guī)格
各種膜的晶片等
W1,530mm x D1,200mm x H1,715mm(自動(dòng)傳送帶)


